一、總體方案與系統架構
變壓器繞組直流電阻測試儀以高速微控制器/MCU為核心,集成程控恒流源、四線法測量前端、高速A/D轉換、繼電器切換矩陣、人機接口與保護/放電單元,實現從激勵、采樣到計算、存儲與輸出的閉環測量。為提升現場效率,可加入一鍵測量流程與三相不平衡率自動計算;為便于數據追溯,配置存儲與USB導出。核心要點:
恒流源:輸出0.1–10 A分級可調,電流穩定度與紋波滿足低阻測量需求。
測量前端:采用四線法/四端子結構,配合前置放大與抗干擾濾波,確保mV級電壓精確測量。
切換矩陣:多路繼電器陣列實現繞組通道自動切換與測試序列編排。
人機界面:LCD/觸控、按鍵、狀態指示,支持測量模式與參數設置。
數據與通信:非易失性存儲、USB/串口導出,便于報告生成與歸檔。
保護/放電:反電勢吸收、過流/過壓/過熱保護,測試結束自動
放電,保障人身與設備安全。

二、硬件設計與關鍵電路
程控恒流源
拓撲建議:AC-DC整流濾波 → 穩壓母線 → MOSFET/IGBT電流驅動 → 采樣/反饋閉環;采用數字電位器/誤差放大器實現輸出電流細粒度調節與穩流控制,輸出范圍覆蓋0.1–10 A以兼顧不同容量繞組(大電感場景需配合助磁/去磁策略)。
四線法測量前端
結構:兩條電流線供給恒流,兩條電壓線接高阻抗差分放大級,消除引線電阻與接觸電阻影響;前端加入低通濾波/屏蔽抑制現場電磁干擾。
信號采集與A/D
電流采樣:分流器或霍爾電流傳感器,將大電流轉為可測電壓;電壓采樣:差分放大后送入高速A/D,保證動態范圍與分辨率。
切換與通道控制
繼電器矩陣完成繞組相別/分接/高低壓側切換;需設計防誤觸與互鎖邏輯,確保測試路徑與安全。
保護與放電
反電勢保護:測試結束或異常斷線時,通過放電電阻+二極管回路泄放繞組儲能;加入過流、過壓、過熱與斷線/短路檢測,觸發關斷與告警。
供電與結構
供電:工頻AC輸入經隔離/濾波/穩壓為控制與模擬前端供電;機箱采用絕緣與防震設計,接口具備防誤插與加固結構。
三、測量原理與算法流程
四線法測阻
施加恒流I,測得電壓V,計算電阻R=V/I;四線法可有效抑制引線/接觸電阻,適合mΩ–Ω級低阻測量。
動態與快速測量
大電感繞組充電時間長,采用“充電→穩態判據→采樣→放電”流程;穩態判據可基于電流變化率/電壓波動閾值;必要時引入助磁法/去磁法縮短穩定時間。
數據處理與判定
對采樣數據進行數字濾波/中值平均降噪;計算三相不平衡率與統計指標(均值、標準差);支持自動量程/自動電流切換與異常點剔除。
一鍵測量流程(可選)
一鍵觸發后自動完成:高壓側三相測量→不平衡率計算→放電→低壓側三相測量→不平衡率計算→結果匯總顯示/存儲/打印。
四、軟件架構與關鍵實現
任務劃分
驅動層:恒流源控制、A/D采集、繼電器矩陣、存儲/通信、人機輸入。
算法層:濾波/擬合、穩態判據、R計算、不平衡率、溫度換算(若具備溫度測量)。
應用層:測量流程編排、狀態機、異常與保護、報表/導出、自檢/校準。
核心流程
初始化→自檢/校準→參數設置→通道選擇→恒流輸出→穩態判據→采樣計算→放電→結果存儲/顯示→下一通道/結束。
校準與自檢
提供零點/增益校準與標準電阻自檢功能,支持用戶定期驗證;關鍵參數掉電保存,支持版本/配置回讀。
人機與數據
支持多語言/多單位顯示、歷史數據查詢、USB/串口導出與打印;界面提供實時曲線/進度指示與告警提示。
五、調試、測試與安全規范
校準與驗證
變壓器繞組直流電阻測試儀使用標準電阻器進行多點校準(含低阻段),驗證線性度與重復性;對比高精度表計/電橋,確認誤差指標滿足設計與現場要求。
功能與性能測試
驗證0.1–10 A各檔穩流精度、四線法抗引線誤差能力、通道切換正確性與抗干擾性能;進行一鍵測量與三相不平衡率一致性測試。
可靠性與EMC
進行高/低溫、濕熱、振動、浪涌/靜電等環境與EMC試驗;完善過流/過壓/過熱/反電勢保護策略與故障自恢復。
現場安全
嚴格執行停電、驗電、接地流程;測試線夾與端子確保可靠接觸;測試結束確認放電完成后再拆線;在通風干燥環境下操作,避免潮濕與高溫。
附:關鍵指標參考與選型建議
電流輸出:0.1–10 A分級可調,紋波與穩定度滿足低阻測量;恒流源建議采用數字電位器+高精度運放+大功率MOSFET實現閉環穩流。
測量方法:優先四線法/四端子,配合前置放大與抗干擾設計,提高mV級電壓測量精度與重復性。
通道與自動化:配置繼電器切換矩陣與一鍵測量流程,自動完成高/低壓側多相測量與三相不平衡率計算,減少換線與人工干預。
數據與保護:內置存儲與USB導出,完善反電勢/過流/過壓/過熱保護與自動放電,確保人身與設備安全。